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用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀

產品名稱: 用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀
產品型號: CT-3型
產品特點: 用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀
CT-3型電解式膜厚計是一款輕量化高精度的設備,它基于庫侖法原理,通過電解溶解鍍層的電量與時間計算厚度,主要適用于生產現場的快速檢測以及中小型企業的質檢需求。CT-3型膜厚計具有以下特點:
輕巧緊湊的機身:主體的重量為3.0千克,非常緊湊,便于攜帶和使用。
增加高靈敏度范圍:可以將靈敏度設置為高于以前的模型,并可以提高測量的穩定性。
廣泛的校準范圍:標準板的

用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀 的詳細介紹

用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀

用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測厚儀

CT-3型電解式膜厚計是一款輕量化高精度的設備,它基于庫侖法原理,通過電解溶解鍍層的電量與時間計算厚度,主要適用于生產現場的快速檢測以及中小型企業的質檢需求。CT-3型膜厚計具有以下特點:
  1. 輕巧緊湊的機身:主體的重量為3.0千克,非常緊湊,便于攜帶和使用。
  2. 增加高靈敏度范圍:可以將靈敏度設置為高于以前的模型,并可以提高測量的穩定性。
  3. 廣泛的校準范圍:標準板的校準范圍為±15%,確保測量結果的準確性。
  4. 1/100范圍:也可以用于Au,Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍(以0.001μm為單位進行測量)。
  5. 墊片范圍的3種類型是標準設備:可以使用三種類型的墊片,分別為3.4φ,2.4φ和1.7φ,以適配不同尺寸工件,可檢測非導電性基材上的鍍層。
  6. 配備主動功能:主動功能可去除一些氧化物,從而減少氧化物測量失敗。
  7. 簡易范圍設定:由于所有設置都是通過撥盤進行的,因此可以輕松進行待測鍍層的佳設置。
CT-3型膜厚計的測量范圍為0.006~300μm,最小分解能可達0.001μm,能夠測量極薄的鍍層。這款設備特別擅長超薄層(<1μm)與厚鍍層(≤300μm)的檢測,尤其適配1μm以下薄鍍層測量需求,適合電子元器件行業、精密零部件行業以及通用制造業的常規鍍層檢測。
CT-3型電解式膜厚計是一款輕量化高精度的設備,它基于庫侖法原理,通過電解溶解鍍層的電量與時間計算厚度,主要適用于生產現場的快速檢測以及中小型企業的質檢需求。CT-3型膜厚計具有以下特點:
  1. 輕巧緊湊的機身:主體的重量為3.0千克,非常緊湊,便于攜帶和使用。
  2. 增加高靈敏度范圍:可以將靈敏度設置為高于以前的模型,并可以提高測量的穩定性。
  3. 廣泛的校準范圍:標準板的校準范圍為±15%,確保測量結果的準確性。
  4. 1/100范圍:也可以用于Au,Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍(以0.001μm為單位進行測量)。
  5. 墊片范圍的3種類型是標準設備:可以使用三種類型的墊片,分別為3.4φ,2.4φ和1.7φ,以適配不同尺寸工件,可檢測非導電性基材上的鍍層。
  6. 配備主動功能:主動功能可去除一些氧化物,從而減少氧化物測量失敗。
  7. 簡易范圍設定:由于所有設置都是通過撥盤進行的,因此可以輕松進行待測鍍層的佳設置。
CT-3型膜厚計的測量范圍為0.006~300μm,最小分解能可達0.001μm,能夠測量極薄的鍍層。這款設備特別擅長超薄層(<1μm)與厚鍍層(≤300μm)的檢測,尤其適配1μm以下薄鍍層測量需求,適合電子元器件行業、精密零部件行業以及通用制造業的常規鍍層檢測。



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