日本ae-mic超快速熱敏電阻測(cè)試儀

產(chǎn)品名稱: 日本ae-mic超快速熱敏電阻測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào): AE-1136D

產(chǎn)品特點(diǎn): 日本ae-mic超快速熱敏電阻測(cè)試儀
通過與外部標(biāo)準(zhǔn)熱敏電阻比較，可以在室溫下測(cè)量相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)值的百分比，而與溫度特性無關(guān)
始終消除熱電動(dòng)勢(shì)的影響，這是由于降低測(cè)量電流而引起的主要誤差因素。
通過施加低測(cè)量功率和脈沖來防止被測(cè)物自熱

日本ae-mic超快速熱敏電阻測(cè)試儀 的詳細(xì)介紹

日本ae-mic超快速熱敏電阻測(cè)試儀

可以測(cè)量外標(biāo)電阻值和被測(cè)物體的電阻值
可以校正外部標(biāo)準(zhǔn)電阻值[±9.999％]
觸點(diǎn)檢查功能是Rs和Rx的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
比較器結(jié)果可以是集電極開路輸出，LED顯示和蜂鳴器聲音
測(cè)量電流/測(cè)量電壓異常檢查電路的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
GP-IB / RS-232C / Centronics接口（可選）

測(cè)量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）

測(cè)量范圍	測(cè)量范圍	解析度	實(shí)測(cè)電流	測(cè)量精度	顯示范圍
10Ω	0.000Ω至15.000Ω	1毫歐	3毫安	±0.03％±2位以內(nèi)[慢??] / 5位以內(nèi)[快速]	15000
100Ω	0.00Ω至150.00Ω	10毫歐	1毫安	±0.02％±2位以內(nèi)[慢??] / 5位以內(nèi)[快速]
1kΩ	0.0000kΩ至1.5,000kΩ	100毫歐	300微安
10kΩ的	0.000kΩ至15.000kΩ	1Ω	100微安
100kΩ的	0.00kΩ至150.00kΩ	10Ω	10微安
1兆歐	0.0000Ω?1.5000MΩ	100Ω	1微安	±0.02％±3位以內(nèi)[慢??] / 6位以內(nèi)[快速]
5兆歐	0.000Ω至5.000MΩ	1kΩ	1微安	±0.02％±5位以內(nèi)[慢??] / 10位以內(nèi)[快速]	5000
％	1Ω至5MΩ	0.01％	看上面	規(guī)格參考	±50.00％

測(cè)量端子開路電壓	9V以下
測(cè)量方式	4端子測(cè)量，Rs / Rx切換方法[Rs和Rx均可進(jìn)行接觸檢查]
采樣時(shí)間	[自由運(yùn)行] 10次/秒[快速]，5次/秒[慢]
采樣時(shí)間	[外部啟動(dòng)]大約7毫秒[快速]，大約23-27毫秒[慢]（取決于范圍和模式）
比較器設(shè)定范圍	[MΩ測(cè)量] HI和LO均為0至15000
比較器設(shè)定范圍	[％測(cè)量] HI和LO均為±50.00％
比較器判斷結(jié)果顯示	LO / GO / HI，LED顯示和蜂鳴器
控制信號(hào)	測(cè)量開始信號(hào)：以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]開始
	保持信號(hào)：斷開，“ H” [DC12V]：自由運(yùn)行，“ L” [0V]：保持
	判斷結(jié)果信號(hào)[LO / GO / HI]：集電極開路輸出大40V，100mA
	接觸錯(cuò)誤[CONT-E]：集電極開路輸出大40V，100mA
	測(cè)量結(jié)束信號(hào)[EOC]：集電極開路輸出大40V，100mA
周邊環(huán)境	溫度：5℃?+ 40℃濕度：85％以下
需要電源	AC85V-265V，50-60HZ，約60VA
外形尺寸	333（W）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡膠腳等突起）
重量	約2.6kg